Microscopiu Elettronicu à Scansione di Filamentu di Tungstenu, Eco. SEM, 15x ~ 250000x
Descrizione di u Produttu
A63.7062 Filamentu di Tungstenu Microscopiu Elettronicu à Scansione, Eco. SEM | ||
Risoluzione | 4.5nm@30KV (SE); 6nm @ 30KV (BSE) | |
Ingrandimentu | Ingrandimentu Negativu: 15x ~ 250000x; Ingrandimentu di Schernu: 30x ~ 500000x | |
Pistola Elettronica | Cartuccia di Filamentu di Tungstenu Centratu Pre-Catodicu Riscaldatu à Tungstenu | |
Tensione Accelerante | 0 ~ 30KV | |
Sistema di Lenti | Lente Elettromagnetica à Tre Livelli (Lente Cónica) | |
Obiettivu Apertura | Apertura di Molibdenu Regolabile Sistema di Vuoto Esternu | |
Stage di Campione | Stage di Cinque Assi | |
Range di Viaghju | X (Auto) | 0 ~ 50mm |
Y (Auto) | 0 ~ 50mm | |
Z (Manuale) | 0 ~ 25mm | |
R (Manuale) | 360o | |
T (Manuale) | -5o ~ 90o | |
Diametru Max Specimen | 150mm | |
Rilevatore | SE: Rilevatore Secondariu di Elettroni Secondariu (Cù Prutezzione Rilevatore) | |
Mudificazione | Upgrade Stage; EBL; STM; AFM; Stage Riscaldante; Stage Cryo; Stage Tensile; Manipulatore Micro-nano; Macchina di Rivestimentu SEM +; SEM + Laser | |
Accessori | CCD, LaB6, Rilevatore di raggi X (EDS), EBSD, CL, WDS, Macchina di Rivestimentu | |
Sistema di Vacuum | Pompe Turbo Moleculari; Pompa di Rotazione | |
Corrente di Fasciu Elettrone | 10pA ~ 0,1 |
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