A63.7080 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Std FEG SEM, 15x ~ 500000x
A63.7080 Schottky Field Emission Gun Microscopiu Elettronicu à Scansione Pro FEG SEM | ||
Risoluzione | 1.5nm@15KV (SE); 3nm @ 20KV (BSE) | |
Ingrandimentu | 15x ~ 500000x | |
Pistola Elettronica | Pistola Elettronica à Emissione Schottky | |
Corrente di Fasciu Elettrone | 10pA ~ 0.3μA | |
Accelerà u Voatage | 0 ~ 30KV | |
Sistema di Vacuum | 2 Pompi Ion, Pompa Turbo Moleculare, Pompa Meccanica | |
Rilevatore | SE: Rilevatore Secondariu di Elettroni Secondariu (Cù Prutezzione di u Rilevatore) | |
BSE: Semiconduttore Quattru Segmentazione Detettore Scattering Indietro | ||
CCD | ||
Stage di Specimen | Cinque Assi Stage Motorizatu Eucentricu | |
Range di Viaghju | X | 0 ~ 80mm |
Y | 0 ~ 50mm | |
Z | 0 ~ 30mm | |
R | 360º | |
T | -5º ~ 70º | |
Diametru Max Specimen | 175mm | |
Mudificazione | EBL; STM; AFM; Stage di riscaldamentu; Stage Cryo; Stage Tensile; Manipulatore Micro-nano; Macchina di rivestimentu SEM +; SEM + Laser Etc. | |
Accessori | Rilevatore di raggi X (EDS), EBSD, CL, WDS, Macchina di Rivestimentu Etc. |
A microscopia elettronica à scansione (sem) hè adatta per l'osservazione di a topografia superficiale di metalli, ceramica, semiconduttori, minerali, biologia, polimeri, compositi è nano-scala materiali unidimensionali, bidimensionali è tridimensionali (immagine elettronica secondaria, maghjina di l'elettroni retrodiffusione). Pò esse adupratu per analizà u puntu, a linea è e cumpunenti di a superficia di a microregiò. Hè ampiamente adupratu in u pitroliu, a geologia, u campu minerale, l'elettronica, u campu di semiconduttori, a medicina, u campu di biologia, l'industria chimica, u campu di materiale polimericu, investigazione criminali di a securità publica, l'agricultura, a silvicultura è altri campi.
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